實(shí)驗(yàn)3 光纖傳輸損耗測(cè)試
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>

圖3.5 典型OTDR曲線
3、實(shí)驗(yàn)步驟
本實(shí)驗(yàn)采用插入法測(cè)試光纖的傳輸損耗系數(shù),如果配置了光時(shí)域反射儀OTDR,則可采用背向散射法。
1)如圖3.3(a)所示,選擇光發(fā)送模塊A,通過(guò)開(kāi)關(guān)KP102選擇數(shù)字光源驅(qū)動(dòng)電路,KP101選擇“數(shù)字”。實(shí)驗(yàn)平臺(tái)加電并復(fù)位系統(tǒng)后(復(fù)位用來(lái)使系統(tǒng)從最初狀態(tài)開(kāi)始運(yùn)行,復(fù)位鍵按下后,液晶屏上將出現(xiàn)提示:“歡迎你”,“請(qǐng)選擇”等字樣,之后便可輸入操作者的選擇),從鍵盤輸入方波,按圖3.3(b)連接好待測(cè)光纖,此時(shí)用光功率計(jì)測(cè)試R點(diǎn)的輸出功率P1,此值定為光纖的入射功率。
2)將R點(diǎn)輸出的光信號(hào)輸入擾模器,經(jīng)過(guò)待測(cè)光纖后,測(cè)出光功率P2,光纖的總損耗A=P2-P1 (dBm),然后就可粗略的估算出每公里光纖的損耗值。
注:此實(shí)驗(yàn)的開(kāi)設(shè)必須具備擾模器和2公里以上的光纖(需另外配置)
1、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>
- 了解光纖損耗的定義
- 了解截?cái)喾?、插入法測(cè)量光纖的傳輸損耗
2、實(shí)驗(yàn)原理
光纖在波長(zhǎng)
處的衰減系數(shù)為
,其含義為單位長(zhǎng)度光纖引起的光功率衰減,單位是dB/km。當(dāng)長(zhǎng)度為
時(shí),
(公式3.1)
ITU-T G.650、G.651都規(guī)定截?cái)喾榛鶞?zhǔn)測(cè)量方法,背向散射法(OTDR法)和插入法為替代測(cè)量方法。本實(shí)驗(yàn)采用插入法測(cè)量光纖的損耗。
(1)截?cái)喾ǎ海ㄆ茐男詼y(cè)量方法)
截?cái)喾ㄊ且粋€(gè)直接利用衰減系數(shù)定義的測(cè)量方法。在不改變注入條件下,分別測(cè)出長(zhǎng)光纖的輸出功率
和剪斷后約2m長(zhǎng)度短光纖的輸出功率
,按定義計(jì)算出
。該方法測(cè)試精度最高。

圖3.1 截?cái)喾ǘúㄩL(zhǎng)衰減測(cè)試系統(tǒng)裝置
(2)插入法
插入法原理上類似于截?cái)喾?,只不過(guò)用帶活接頭的連接軟線代替短纖進(jìn)行參考測(cè)量,計(jì)算在預(yù)先相互連接的注入系統(tǒng)和接受系統(tǒng)之間(參考條件)由于插入被測(cè)光纖引起的功率損耗。顯然,功率
、
的測(cè)量沒(méi)有截?cái)喾ㄖ苯?,而且由于連接的損耗會(huì)給測(cè)量帶來(lái)誤差,精度比截?cái)喾ú钜恍?。所以該方法不適用于光纖光纜制造長(zhǎng)度衰減的測(cè)量。但由于它具有非破壞性不需剪斷和操作簡(jiǎn)便的優(yōu)點(diǎn),用該方法做成的便攜式儀表,非常適用于中繼段長(zhǎng)總衰減的測(cè)量。圖3.2示出了兩種參考條件下的測(cè)試原理框圖。

(a)

(b)
圖3.2 典型的插入損耗法測(cè)試裝置
圖3.2(a)情況下,首先將注入系統(tǒng)的光纖與接收系統(tǒng)的光纖相連,測(cè)出功率
然后將待測(cè)光纖連到注入系統(tǒng)和接收系統(tǒng)之間,測(cè)出功率
,則被測(cè)光纖段的總衰減A可由下式給出
(公式3.2)
式中
、
、
分別是在參考條件、實(shí)驗(yàn)條件下光纖輸入端、輸出端連接器的標(biāo)稱平均損耗值(dB)。
圖3.2(b)情況下,首先將參考系統(tǒng)連在注入系統(tǒng)和接收系統(tǒng)之間,測(cè)出功率
,然后如圖(a)一樣,測(cè)出功率
,則被測(cè)光纖段的總衰減可由下式給出
(公式3.3)
情形(a)中,由于連接器的質(zhì)量可能會(huì)影響測(cè)試精度;情形(b)中,采用了光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精密耦合,代替了連接器的耦合,可以得到精確的測(cè)量結(jié)果,當(dāng)只需要知道光纖的實(shí)際衰減時(shí),它比較合適。當(dāng)被測(cè)光纖段帶有半個(gè)連接器而且需要和其它元件串在一起時(shí),情形(a)的測(cè)試結(jié)果更有意義。
試驗(yàn)平臺(tái)中我們采用了插入法測(cè)量光纖的損耗,試驗(yàn)框圖如3.3所示:

(a)

(b)
圖3.3 插入損耗測(cè)試框圖
(3)光時(shí)域反射計(jì)(OTDR)測(cè)試
背向散射法是通過(guò)光纖中后向散射光信號(hào)來(lái)提取光纖衰減及其他信息的,諸如光纖光纜的光學(xué)連續(xù)性、物理缺陷、接頭損耗和光纖長(zhǎng)度等。它是一種間接地測(cè)量均勻樣品衰減的方法。下面分析背向散射法的測(cè)量原理。
將光功率為
,脈沖寬度為
的窄帶光脈沖注入光纖,由于衰減,在傳輸距離
之后,光功率
為
(公式3.4)
式中,
是衰減系數(shù)。由于瑞利散射的作用,在
處的光功率總有一部分背向散射回光纖輸入端。
處的背向散射光功率為
(公式3.5)
式中,
是在
處光纖的瑞利背向散射系數(shù),定義
為
(公式3.6)
式中,
是瑞利散射系數(shù);
是光在光纖中的群速度;
代表背向散射功率與瑞利散射總功率之比,它與光纖結(jié)構(gòu)參數(shù)(芯徑、相對(duì)折射率差)有關(guān)。設(shè)
處的背向散射光功率為
(公式3.7)
由公式(3.7)和式(3.5),可得
之間的平均衰減系數(shù)為
(公式3.8)
如果光纖軸向不均勻,
不是常數(shù),則公式(3.8)表示的衰減系數(shù)包含了一項(xiàng)與結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)的待定項(xiàng),這樣,直接從背向散射曲線上求得的
并不能代表實(shí)際的衰減系數(shù),這也就是該方法的缺點(diǎn)所在。
假定光纖的結(jié)構(gòu)參數(shù)沿軸向均勻時(shí),
,則
間的平均衰減系數(shù)為
(公式3.9)
這時(shí)就可以從背向散射曲線求得實(shí)際的平均衰減系數(shù)了。
圖3.4是一個(gè)典型的背向散射法測(cè)試系統(tǒng)框圖。這里不再介紹各部分的作用和要求。利用背向散射原理制成的儀表稱為光時(shí)域反射計(jì),簡(jiǎn)稱OTDR。 圖3.5示出了在對(duì)數(shù)坐標(biāo)上的一條典型OTDR曲線,曲線上A-B間的衰減是
(公式3.10)
式中,
、
是以對(duì)數(shù)刻度的背向散射功率電平,平均衰減系數(shù)為
(公式3.11)
式中,
是待測(cè)光纖的長(zhǎng)度。若光纖軸向不均勻時(shí),取從兩端測(cè)量的平均值作為平均衰減系數(shù),從而消除了公式(3.8)中的待定項(xiàng)。背向散射法雖屬替代方法,可是它被廣泛的用在光纖光纜的研制、生產(chǎn)以及光通信工程的施工維護(hù)中。

圖3.4 背向散射法測(cè)試曲線

圖3.5 典型OTDR曲線
3、實(shí)驗(yàn)步驟
本實(shí)驗(yàn)采用插入法測(cè)試光纖的傳輸損耗系數(shù),如果配置了光時(shí)域反射儀OTDR,則可采用背向散射法。
1)如圖3.3(a)所示,選擇光發(fā)送模塊A,通過(guò)開(kāi)關(guān)KP102選擇數(shù)字光源驅(qū)動(dòng)電路,KP101選擇“數(shù)字”。實(shí)驗(yàn)平臺(tái)加電并復(fù)位系統(tǒng)后(復(fù)位用來(lái)使系統(tǒng)從最初狀態(tài)開(kāi)始運(yùn)行,復(fù)位鍵按下后,液晶屏上將出現(xiàn)提示:“歡迎你”,“請(qǐng)選擇”等字樣,之后便可輸入操作者的選擇),從鍵盤輸入方波,按圖3.3(b)連接好待測(cè)光纖,此時(shí)用光功率計(jì)測(cè)試R點(diǎn)的輸出功率P1,此值定為光纖的入射功率。
2)將R點(diǎn)輸出的光信號(hào)輸入擾模器,經(jīng)過(guò)待測(cè)光纖后,測(cè)出光功率P2,光纖的總損耗A=P2-P1 (dBm),然后就可粗略的估算出每公里光纖的損耗值。
注:此實(shí)驗(yàn)的開(kāi)設(shè)必須具備擾模器和2公里以上的光纖(需另外配置)
